日本日立SU3500
技术指标: 背散射电子图像
分辨率:4.0nm,30kv ;
二次电子图象分辨率:3.0nm(30KV.WD=5.0mm);
放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率*5);
最大样品尺寸 8英寸;
能谱分辨率:129eV ;
元素范围:B4~U95
主要功能: 材料形貌,组织观察。元素定性半定量分析,针对粉末或者比较小的固体样品,可以进行点、线、面扫描测试
日本日立SU3500
技术指标: 背散射电子图像
分辨率:4.0nm,30kv ;
二次电子图象分辨率:3.0nm(30KV.WD=5.0mm);
放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率*5);
最大样品尺寸 8英寸;
能谱分辨率:129eV ;
元素范围:B4~U95
主要功能: 材料形貌,组织观察。元素定性半定量分析,针对粉末或者比较小的固体样品,可以进行点、线、面扫描测试
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